答案:【计分规则】: (1)颗粒:引起电路开路或短路。半导体制造中,可接受的颗粒尺寸的粗略法则是它必须小于器件特征尺寸的一半。(2)金属杂质:导致器件成品率下降。典型金属杂质是碱金属。主要来源是离子注入和化学品与传输管道/容器的反应。钠是最普遍的可动离子沾污,人是主要的传送者。(3)有机物沾污:使硅片表面清洗不彻底,降低栅氧层的致密性。(4)自然氧化层:暴露于室温下空气中或含溶解氧的去离子水中硅片表面将被氧化。 危害:自然氧化层的存在将增加接触电阻,还将阻碍其它工艺步骤如硅片上单晶薄膜、超薄栅氧化层生长的进行。(5)静电释放:两种不同静电势的材料接触或摩擦会产生静电释放。 危害:①静电释放可能成为栅氧层击穿的诱因; ②电荷积累产生电场会吸引带点颗粒或极化并吸引中性颗粒到硅片。